CA絕緣電阻測(cè)試儀經(jīng)過(guò)向電器外殼及接地銜接點(diǎn)提供1A~30A的鼓勵(lì)來(lái)模仿一種毛病條件。接地銜接測(cè)試儀也采用歐姆定律的原理。它們丈量維護(hù)接地線(xiàn)和金屬外殼上測(cè)試點(diǎn)之間的電壓降，應(yīng)用已知的電壓降和施加的電流來(lái)計(jì)算zui終的電阻丈量值。
 

　　設(shè)計(jì)CA絕緣電阻測(cè)試儀校準(zhǔn)器的難點(diǎn)是提供可以接受30A~40A大電流的低值大功率電阻器。由于30A電流將需求十分多的大電流繼電器，不合適裝置在校準(zhǔn)器內(nèi)部，所以不能采用分立電阻器矩陣的辦法。設(shè)計(jì)人員在認(rèn)真研討接地銜接測(cè)試儀的校準(zhǔn)程序后，用有16個(gè)可以掩蓋25mΩ~1.8kΩ范圍的分立電阻器能滿(mǎn)足了這一需求。這些電阻器的*不肯定度為5mΩ。
 

　　CA絕緣電阻測(cè)試儀留意事項(xiàng)：運(yùn)用儀器前請(qǐng)認(rèn)真閱讀闡明書(shū)，依照闡明書(shū)上正確的接線(xiàn)辦法接線(xiàn)。實(shí)驗(yàn)時(shí)請(qǐng)確認(rèn)被測(cè)設(shè)備已斷電，并與其它帶電設(shè)備斷開(kāi)。儀器在運(yùn)用中必需牢靠的接地。改換保險(xiǎn)管和配件時(shí)，請(qǐng)運(yùn)用與本儀器相同的型號(hào)。
 

　　當(dāng)CA絕緣電阻測(cè)試儀電壓接線(xiàn)回路出現(xiàn)接觸不良或開(kāi)路時(shí)，測(cè)試儀還會(huì)顯示一個(gè)數(shù)值，此時(shí)會(huì)出現(xiàn)以下幾種情況：
 

　　(1)電壓回路開(kāi)路，測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)沒(méi)有強(qiáng)電場(chǎng)干擾，這種情況下，由于放大器輸入的差模電壓基本為0，故儀器顯示的測(cè)試數(shù)值接近為0，如果測(cè)試人員有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，可以判斷出是儀器電壓回路測(cè)試線(xiàn)異常，將儀器電壓回路測(cè)試線(xiàn)異常排除后，可以得出終正確測(cè)試結(jié)果；如果測(cè)試人員沒(méi)有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，有可能會(huì)誤判測(cè)試儀出現(xiàn)問(wèn)題，中斷測(cè)試，更換或返修儀器，延誤停電時(shí)間，給測(cè)試工作帶來(lái)不必要的麻煩。
 

　　(2)電壓回路接觸不良，大多數(shù)情況下斷路器的接線(xiàn)端子在長(zhǎng)期運(yùn)行后端子排外表面會(huì)產(chǎn)生氧化膜或油膜，當(dāng)回路電阻儀的電壓測(cè)試鉗夾接到這樣的端子排上時(shí)就可能產(chǎn)生接觸不良，既電壓測(cè)試線(xiàn)鉗夾本身也要產(chǎn)生一定的接觸電阻，該接觸電阻值達(dá)到與電壓采樣回路的內(nèi)阻值相當(dāng)時(shí)，將對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生嚴(yán)重影響。
 

　　(3)電壓回路開(kāi)路或接觸不良(開(kāi)路時(shí)可視接觸電阻R1無(wú)窮大)，測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)有較強(qiáng)的電磁干擾，如母線(xiàn)帶電，此時(shí)帶電母線(xiàn)通過(guò)以空氣為介質(zhì)的電容，干擾測(cè)試儀的兩條電壓測(cè)試線(xiàn)，由于干擾的作用使回路測(cè)試儀電壓采集線(xiàn)兩端出現(xiàn)差模電壓。將儀器電壓回路測(cè)試線(xiàn)異常排除后，可以得出終正確測(cè)試結(jié)果；如果測(cè)試人員沒(méi)有足夠的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試經(jīng)驗(yàn)，有可能會(huì)誤判測(cè)試儀出現(xiàn)問(wèn)題，中斷測(cè)試，更換或返修儀器，延誤停電時(shí)間，給測(cè)試工作帶來(lái)不必要的麻煩。
 

　　(2)電壓回路接觸不良，大多數(shù)情況下斷路器的接線(xiàn)端子在長(zhǎng)期運(yùn)行后端子排外表面會(huì)產(chǎn)生氧化膜或油膜，當(dāng)回路電阻儀的電壓測(cè)試鉗夾接到這樣的端子排上時(shí)就可能產(chǎn)生接觸不良，既電壓測(cè)試線(xiàn)鉗夾本身也要產(chǎn)生一定的接觸電阻，該接觸電阻值達(dá)到與電壓采樣回路的內(nèi)阻值相當(dāng)時(shí)，將對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生嚴(yán)重影響。
 

　　(3)電壓回路開(kāi)路或接觸不良(開(kāi)路時(shí)可視接觸電阻R1無(wú)窮大)，測(cè)試現(xiàn)場(chǎng)有較強(qiáng)的電磁干擾，如母線(xiàn)帶電，此時(shí)帶電母線(xiàn)通過(guò)以空氣為介質(zhì)的電容，干擾測(cè)試儀的兩條電壓測(cè)試線(xiàn)，由于干擾的作用使回路測(cè)試儀電壓采集線(xiàn)兩端出現(xiàn)差模電壓。